在美國鳳凰城的 Microscopy & Microanalysis 2012 的年會上，Carl Zeiss 發表場發射掃描電子顯微鏡鏡 (FE-SEM) 平台 MERLIN，用戶現在可以在MERLIN Compact 、MERLIN VP Compact 、MERLIN 之間選配或組合。
即插即用的特點使得用戶能夠通過增加或改變檢測器，花最少的力氣從簡單的影像採集到復雜的材料分析都能完成工作。可存儲大圖 32k x 24k ，使得能為較大區域成像。新的特點包括原位 3D 表面重建和來自 2D 數據的 3D 計算。新的鏡頭內 Duo 檢測器可以得到雙倍於以往的分辨率，並且獲得更多材料信息。MERKIN VP Compact 甚至能對非導電未塗層的樣 本進行高分辨率成像。
兩個獨特的優勢拓寬了 MERKIN Platform 的應用範圍：
1、整合了一個超微切機直接進入真空室，嵌入的樣本自動序列成像成為可能。因此生物樣本可以3D體積成像。
2、通過將 AFM 與真空室整合，原子級分辨率的影像就能實現了。
Michael Schweitzer 負責 FE-SEM 的生產線，總結說: “ 自從2010 年推出 MERLIN FE-SEM 以來，我們收到用戶非常積極的反饋。系統的擴展性使用戶能將他們的系統配置的更有效且專用於到當前的研究需求。 用戶可以在任何時間擴展系統以適應需求，然而，我更興奮的是能夠為了原子級分辨率將原子力顯微鏡整合進真空室或為了序列切片成像將超薄切片機整合。”
原廠網址：http://microscopy.zeiss.com/microscopy/en_de/products/scanning-electron-microscopes/merlin-materials.html
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