JEOL 推出超高分辨率場發射 SEM ：高品質的 FE-SEM 對各種樣品有著亞納米的分辨率。
JEOL 的新系列場發射掃描電子顯微鏡的發布隨著 JSM-7800F 的面世而完成。JEOL 的高品質 FE-SEM 能夠在放大1000000x 〈1nm 的分辨率，觀察最細微納米材料的拓撲結構，能夠在低電壓下為高磁性樣本成像和分析下，能夠在低倍數下無畸變的收集EBSD 圖譜，配上可選的伸縮 STEM 檢測器能夠為超薄、小於0.8nm 的電子透明樣本成像。
優化的極端成像和分析能力
JSM-7800F 配了一個內置鏡頭的場發射槍，利用孔徑角控製鏡頭，優化探針流(up to 200 nA) 。新的超級混合透鏡的設計和帶有過濾功能的多功能柱形檢測器能夠允許觀察任何的樣本，尤其是在超低加速電壓下，至10v 時。SEM 擅長在低加速電壓下做X 射線光譜和陰極發光檢測，同時結合大的電流以及小的互動體積，大大提高分析分辨能力到小於 100nm 。GB 模式下的電子束減速將會減少非導電樣品上的電荷，減少對高分辨率成像的鏡頭像差影響。
終極功能
JSM-7800F 適合於各種應用，從冷凍顯微鏡到電子束光刻，可以配置低真空操作。還可以銜接多個分析附件，包括 EDS 、WDS 、SETM 、BSE 、CL 、EBIC 、IR 相機和導航相機。這款 SEM 還有三個不同大小的載物台、三個不同尺寸的樣本交換艙。它還可 以為原位實驗配備拉伸、加熱、冷卻台。
JEOL 美國技術部銷售經理 Vern Robertson 說：“JEOL 現在能提供全系列的分析、高品質電鏡，以適合各種科研需求和預算。”
原廠網址：http://www.jeolusa.com/NEWSEVENTS/PressReleases/tabid/314/ID/274/JEOL-Introduces-Ultra-high-Resolution-Analytical-Field-Emission-SEM.aspx
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