Bruker 3D ContourGT-I

Bruker 為 R&D 和工業應用推出 ContourGT-I 3D光學顯微鏡，改進後的 ContourGT-I 加快和簡化了測量設置、特點追踪，第一次將 Bruker 的擺頭設計做為基準，包括轉盤、鏡頭、照明都實現了全自動的功能。
ContourGT-I 在設計上，能最大化的抗擊振動，在全部整合進空間分離器時仍然保證足夠的穩定性。這能為從眼科醫療設備到精密加工以及半導體製造業的經營者提供更大的方便以及更高的生產率。
“基於過去三十年在表面計量以及成像的卓越表現，客戶知道依賴我們的 3D 光學顯微鏡可以看到任何觀察倍數下 Z 軸最好的分辨率，以及對難處理的幾何表面大視野下進行最快速的測量。”Bruker納米表面部門的總裁Mark Munch說, “通過實現自動化以及採用大體積落地系統用的擺頭設計，ContourGT-I 可以為工業應用提供以上功能，以前沒有考慮過 3D 光學顯微鏡能夠容易的完成這些功能。”
“在客戶需要鑑別不同角度的表面特徵時，擺頭設計顯得特別有意義,” Bruker計量部門的總經理兼執行副總裁Rob Loiterman補充說：“通過減少XY追踪誤差和特定定位時間，ContourGT-I可以按需要進行gage-capable測量 。在改變放大率時，伴隨著讓樣本聚焦的過程，這極大地改進了實驗室的效率以及車間的生產率，即直接節約了客戶的生產成本。”
關於ContourGT-I 3D光學顯微鏡
納米級粗糙樣本到毫米級樣本操作，亞納米Z軸分辨率、分析能力以及選配新的彩色CCD，使得ContourGT-I成為計量、成像的新標準。這款設備是Bruker ContourGT 3D光學顯微鏡的最新版本，這些系統都裝有更高亮度的雙LED照明器，配備了更高的Z軸分辨率，改進了敏感度和穩定性。 直觀的Vision64軟件能提供更強的測量和分析功能。

原廠網址：http://www.bruker.com/en/products/surface-analysis/3d-optical-microscopy/contourgt-i/overview.html