JPK Nano Tracker 2

JPK研發出一款新的光鑷系統，Nano Tracker 2，能保持更好的線性度和降低串色，改善了敏感力的測量。
光鑷平台基於研究級倒置顯微鏡，專為敏感操作、力實驗和跟踪實驗而設計。
利用NanoTracker2，用戶可以捕獲和追踪從幾um到30nm的粒子，可以實時以納米分辨率控制、操作和觀察樣本。
光鑷一般是由有物理或儀器背景的人使用，但現在JPK這個可隨時使用的系統降低了用戶的投入。
系統平台有著逐漸增大的穩定性和可提高檢測效率的低噪音，樞軸點壓電鏡頭提供準確的光軸轉向，而重新設計的光路將會保證更好的檢測結果。
“我們研發了一個比以前更多整合的設計方式，” CTO Torsten Jähnke說：“舉例來說，這讓單個分子實驗如DNA拉伸或細胞/粒子實驗更直截了當的實現。這節省了用戶的時間，他們現在用一個控制分析軟件包完全控制著各種參數。"
JPK也啟用了新的開放程序，以便用戶更進一步設計他們自己的測量。

原廠網址：http://www.jpk.com/index.2.en.html