Park Systems為失效分析、質量控制實驗室推出NX20，一款高端、大樣本原子力顯微鏡， 能為這些實驗室提供高度的準確率和可靠性。NX20是為硬體驅動和半導體工業的失效分析和質量控製而設計，其特點是無接觸式工作模式，確保長時間工作探針的銳度，銳度是失效觀察和粗糙度測量時保持準確度和重複性的關鍵因素。也是高生產率和AFM延長壽命的關鍵。
NX20的特點是在FA和QA時真正的無接觸模式，由於解偶Z軸位置定位器的快速反應時間，保證探針可靠的位於樣本的表面。有了真正的非接觸模塊，Park的非接觸AFM成像不會損失準確率和生產率。這也會極大地減少針尖替換成本，延長針尖的壽命。
Park用行業領先的低噪音Z檢測器測量Z位置，這樣NX20能真正保證樣本形貌。這個特點消除了邊緣沖和壓力蠕變的效果。
Park的AFM為FA和QA實驗室提供介質和襯底極度準確的表面粗糙度測量，失效審查成像和分析，高分辨率電子掃描模塊和解偶XY掃描， 3D結構分析側面測量等。
原廠網址：http://www.parkafm.com/
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