JEOL Introduces Ultra-high Resolution Analytical Field Emission SEM

JEOL 推出超高分辨率場發射 SEM ：高品質的 FE-SEM 對各種樣品有著亞納米的分辨率。
JEOL 的新系列場發射掃描電子顯微鏡的發布隨著 JSM-7800F 的面世而完成。JEOL 的高品質 FE-SEM 能夠在放大1000000x 〈1nm 的分辨率，觀察最細微納米材料的拓撲結構，能夠在低電壓下為高磁性樣本成像和分析下，能夠在低倍數下無畸變的收集EBSD 圖譜，配上可選的伸縮 STEM 檢測器能夠為超薄、小於0.8nm 的電子透明樣本成像。
優化的極端成像和分析能力
JSM-7800F 配了一個內置鏡頭的場發射槍，利用孔徑角控製鏡頭，優化探針流(up to 200 nA) 。新的超級混合透鏡的設計和帶有過濾功能的多功能柱形檢測器能夠允許觀察任何的樣本，尤其是在超低加速電壓下，至10v 時。SEM 擅長在低加速電壓下做X 射線光譜和陰極發光檢測，同時結合大的電流以及小的互動體積，大大提高分析分辨能力到小於 100nm 。GB 模式下的電子束減速將會減少非導電樣品上的電荷，減少對高分辨率成像的鏡頭像差影響。
終極功能
JSM-7800F 適合於各種應用，從冷凍顯微鏡到電子束光刻，可以配置低真空操作。還可以銜接多個分析附件，包括 EDS 、WDS 、SETM 、BSE 、CL 、EBIC 、IR 相機和導航相機。這款 SEM 還有三個不同大小的載物台、三個不同尺寸的樣本交換艙。它還可 ​​以為原位實驗配備拉伸、加熱、冷卻台。
JEOL 美國技術部銷售經理 Vern Robertson 說：“JEOL 現在能提供全系列的分析、高品質電鏡，以適合各種科研需求和預算。”

原廠網址：http://www.jeolusa.com/NEWSEVENTS/PressReleases/tabid/314/ID/274/JEOL-Introduces-Ultra-high-Resolution-Analytical-Field-Emission-SEM.aspx

JSM-7100F Analytical Field Emission SEM

JEOL 發佈場發射掃描電子顯微鏡 FE-SEM ，能提供更多成像和分析能力，並可以根據用戶要求定制功能。JEOL JSM-7100F 系列在各種加速電壓下都把小的探針和大的束狀電流結合在一起，因此能提供低於1nm 的成像能力和100nm 的表徵分析能力。

JSM-7100F 主要為經費緊張的實驗室設計，因此它是一款多功能、容易使用的場發射 SEM，同時又可以擴展到新的水平。通過獨特的' 透鏡場發射槍' ，SEM 能對樣品打出 200 nA 的電流。孔徑角控製鏡頭自動優化小探針光斑的尺寸，以進行高分辨率成像、保持高電子束的光斑形狀和高分辨率顯微分析。

JSM-7100FT 新配了重新設計的複合透鏡和帶能量過濾器的透鏡探測器，因此擁有先進的高分辨能力。電子柱優越的電子光學設計使它擁有高分辨率成像能力，對包括磁性樣品在內的各種材質類型的表面細節都成像清楚。有集成的透鏡加速、減速裝置，就會減少低 kV 的畸變，得到更高速分辨率以及加速度小的電壓。另外，JEOL 的已被證實有效的束流減速模式會在給非導電樣本成像時較少供電，提高了低 kV 下光斑的大小，提高了表面形貌。

新的場發射SEM 為非導電樣本的多種成像、分析技術提供越來越多的可能性。每個機器都採用渦輪分子泵和快速樣本交換氣閘確保清潔的真空環境。

可選低真空操作部件
可選 LV 功能（直到300Pa ）為 JSM-7100F 和 JSM-7100FT 提供額外的功能，通過顯微鏡用戶界面可全面控制 LV 功能，同時在高真空下不破壞真空無限制的低倍成像和高電子束時，允許所有的 LV 洞口被收回。LV 系統配備在固態BSE 檢測器上。
可調節的多個分析技術。

JSM-7100F 系列配備了大的樣本室，這樣可以同時容納各種檢測器和附件，包括EDS 、WDS 、STEM 、BSE 、CL 和 IR 相機，並不會折中某一個的表現，這個系統可以配備原位實驗所需的各種載物台，如拉伸、加熱和製冷載物台。

提高了生產率
JEOL 以其容易使用的 SEM 操作軟體、圖形用戶界面和生產率大幅提高而著稱。存儲影像時會保留操作條件，方便多個用戶使用。影像的歸檔、搜索、測量、生成報告、過濾和剪接都可在影像數據庫進行。

原廠網址：http://www.jeolusa.com/Default.aspx?tabid=174