Hitachi Bio-Medical 120kV TEM HT7700

HT7700 選用新的高分辨率極片，利用了 Hitachi 獨特的雙間隙透鏡技術，以及最小化球差性能提供更好的分辨率，此為 120kV 儀器中最好的一個。這使得 HT7700 尤其適合光學元件材料的高分辨率成像，低電壓可以改善對比度和減少損壞樣本。

採用新的物鏡鏡頭和新的 STEM版本，使得 HT7700 成為目前最強大的 120kV TEM，也是最直觀的一個。現在開創性的 HT7700 也適合於低加速電壓，高分辨率檢驗工程光元件材料，如尖端的生物醫學、生物樣本用材料，這已是眾所周知的。

HT7700 可以在低壓 40kV下得到優異的影像。利用全面整合或半整合CCD系統，HT7700可持續提供全數位化成像。高靈敏實時數位 CCD 確保所有的顯微鏡操作可通過影像用戶界面實現，包括設置、安裝、調整和影像拍攝等。

可選的高性能掃描透射電子顯微鏡系統大大增加了 HT7700 的分析能力，它與HT7700 無縫拼接，並提供強大的明場和暗場成像。具有高放大率和大視場特點的STEM 非常適合高分辨率點陣成像、大晶體結構和納米顆粒分析。

直觀的 STEM GUI 和自動化性能、空間分辨率的EDX、分析成像、厚樣本分析都成為常規分析，所有的 STEM 成像都可以即時存檔於 Hitachi EMIP 數據庫中。

原廠網址：http://www.hht-eu.com/cms/25248.html

Carl Zeiss MERLIN FE-SEM

在美國鳳凰城的 Microscopy & Microanalysis 2012 的年會上，Carl Zeiss 發表場發射掃描電子顯微鏡鏡 (FE-SEM) 平台 MERLIN，用戶現在可以在MERLIN Compact 、MERLIN VP Compact 、MERLIN 之間選配或組合。
即插即用的特點使得用戶能夠通過增加或改變檢測器，花最少的力氣從簡單的影像採集到復雜的材料分析都能完成工作。可存儲大圖 32k x 24k ，使得能為較大區域成像。新的特點包括原位 3D 表面重建和來自 2D 數據的 3D 計算。新的鏡頭內 Duo 檢測器可以得到雙倍於以往的分辨率，並且獲得更多材料信息。MERKIN VP Compact 甚至能對非導電未塗層的樣 ​​本進行高分辨率成像。

兩個獨特的優勢拓寬了 MERKIN Platform 的應用範圍：
1、整合了一個超微切機直接進入真空室，嵌入的樣本自動序列成像成為可能。因此生物樣本可以3D體積成像。
2、通過將 AFM 與真空室整合，原子級分辨率的影像就能實現了。
Michael Schweitzer 負責 FE-SEM 的生產線，總結說: “ 自從2010 年推出 MERLIN FE-SEM 以來，我們收到用戶非常積極的反饋。系統的擴展性使用戶能將他們的系統配置的更有效且專用於到當前的研究需求。 用戶可以在任何時間擴展系統以適應需求，然而，我更興奮的是能夠為了原子級分辨率將原子力顯微鏡整合進真空室或為了序列切片成像將超薄切片機整合。”

原廠網址：http://microscopy.zeiss.com/microscopy/en_de/products/scanning-electron-microscopes/merlin-materials.html

Ionscope ICnano 掃描離子電導顯微鏡

英國Ionscope 公司的掃描離子電導顯微鏡（SICM ）為生命科學、物理學以及材料科學的功能化研究提供了一種新型的高分辨率拓撲成像技術。採用探針調製式負反饋控制的離子電導掃描專利技術帶來了前所未有的穩定性和卓越效果，使長時間的連續高分辨率掃描成為可能。

Ionscope Icnano SICM 作為新一代的研究工具，擁有諸多專利設計。納米尺度的玻璃微滴管探針（nanopipette ）由標準的微 ​​滴管拉置儀制作，操作簡單且成本低廉。SICM 與其他納米級的成像裝置不同之處在於：SICM 通過感應流入玻璃探針的離子電流而不需通過引、斥力生成影像，因此掃描過程中不存在與樣品表面的力接觸。

探針距離樣本表面大約探針內半徑的距離，一般為20-100nm 。實現橫向分辨率與探針內半徑一致，同時縱向達到5 倍以上的分辨率。

無需複雜的樣本製備過程，對於活細胞，無需染色，包埋，切片，固定或者抽真空等，只需將樣本浸沒於培養皿的電解液。
使用現有的微滴管拉製儀即可自行製備掃描用微滴管探針，電極分別置於微滴管探針和样本培養皿中。
自動控制微滴管探針接近樣品表面，以保證掃描成像快速方便地開始。

SICM 特點：
● 掃描探針顯微鏡(SPM) 家族中的最新成員；
● 非接觸（零作用力）地對浸泡在液體中的樣品進行高分辨率探測；
● 在成像過程中不對樣品產生任何相互作用和影響的第一種也是唯一一種高分辨率成像技術。
最大的優勢：可對生物樣本進行無接觸的掃描，X ，Y ，Z 軸掃描範圍高達100UM 幾乎可以對任何大小和形狀細胞形貌成像，使得ICnano 成為以下研究的理想工具：
● 生理條件下活細胞/ 細菌掃描成像— 樣本準備簡單，無需固定樣本，
● 病毒學
● 柔軟表面如高分子材料或脂質筏
● 電生理學
● 牙齒/ 骨骼應用
● 生物污損
● 腐蝕

SICM 技術開放性良好：可以和其他技術整合應用。
● 光學/ 共聚焦/FRET/TIRF 顯微鏡
● 電生理學/ 膜片鉗研究
● 納米力學特性研究
● 納米沉積/ 納米註射

掃描離子電導顯微鏡技術在納米生物學研究中的部分應用實例
細胞膜表面形貌成像
Korchev 教授及其研究組利用經改進的掃描離子電導顯微鏡技術，先後研究黑色素瘤細胞腎上皮細胞、心肌細胞、精子細胞、神經元等多種細胞膜表面的特有微觀結構與相應功能的關係。
德國維爾茨堡大學，倫敦帝國學院等處的科學家將高倍顯微鏡與活細胞掃描離子電導顯微鏡相結合來研究大鼠與小鼠的心肌細胞，在最新的一期Science 雜誌(2010,2) 上發表研究新進展文章β2-Adrenergic Receptor Redistribution in Heart Failure Changes cAMP Compartmentation ，解析一種影響心臟跳動的分子。
Gorelik 等人還利用掃描離子電導顯微鏡技術實時跟踪研究細胞膜表面納米尺度微結構的動態形成過程。
高分辨率膜片鉗技術 :
Gu 等[ 利用這種高分辨率的膜片鉗技術系統研究心肌細胞膜表面多種離子通道的分佈與表面特定微觀結構的關係。Gorelik 等利用聰明膜片鉗技術在腎上皮細胞微絨毛上同時記錄到鉀離子和氯離子通道。
納米沉積/ 納米註射
Bruckbauer 等和Ying 等利用掃描離子電導顯微鏡玻璃微滴管掃描探針及精確輸送技術來製備蛋白芯片及基因芯片。

原廠網址：http://www.ionscope.com/products/icnano-s/

JEOL Introduces Ultra-high Resolution Analytical Field Emission SEM

JEOL 推出超高分辨率場發射 SEM ：高品質的 FE-SEM 對各種樣品有著亞納米的分辨率。
JEOL 的新系列場發射掃描電子顯微鏡的發布隨著 JSM-7800F 的面世而完成。JEOL 的高品質 FE-SEM 能夠在放大1000000x 〈1nm 的分辨率，觀察最細微納米材料的拓撲結構，能夠在低電壓下為高磁性樣本成像和分析下，能夠在低倍數下無畸變的收集EBSD 圖譜，配上可選的伸縮 STEM 檢測器能夠為超薄、小於0.8nm 的電子透明樣本成像。
優化的極端成像和分析能力
JSM-7800F 配了一個內置鏡頭的場發射槍，利用孔徑角控製鏡頭，優化探針流(up to 200 nA) 。新的超級混合透鏡的設計和帶有過濾功能的多功能柱形檢測器能夠允許觀察任何的樣本，尤其是在超低加速電壓下，至10v 時。SEM 擅長在低加速電壓下做X 射線光譜和陰極發光檢測，同時結合大的電流以及小的互動體積，大大提高分析分辨能力到小於 100nm 。GB 模式下的電子束減速將會減少非導電樣品上的電荷，減少對高分辨率成像的鏡頭像差影響。
終極功能
JSM-7800F 適合於各種應用，從冷凍顯微鏡到電子束光刻，可以配置低真空操作。還可以銜接多個分析附件，包括 EDS 、WDS 、SETM 、BSE 、CL 、EBIC 、IR 相機和導航相機。這款 SEM 還有三個不同大小的載物台、三個不同尺寸的樣本交換艙。它還可 ​​以為原位實驗配備拉伸、加熱、冷卻台。
JEOL 美國技術部銷售經理 Vern Robertson 說：“JEOL 現在能提供全系列的分析、高品質電鏡，以適合各種科研需求和預算。”

原廠網址：http://www.jeolusa.com/NEWSEVENTS/PressReleases/tabid/314/ID/274/JEOL-Introduces-Ultra-high-Resolution-Analytical-Field-Emission-SEM.aspx

TIMA - Mineral Analyzer

TESCAN 是世界領先的掃描式電子顯微鏡、聚焦離子束工作站的製造商，最新推出 Tescan 整合礦石分析者(TIMA)。 TIMA是個全自動、高通量、分析掃描電子顯微鏡鏡，專為採礦和礦石加工業推出。 TIMA將會用在礦石分離分析、工藝優化、修復和尋找珍稀金屬和稀土領域上。
TIMA可用來檢測金屬的豐富程度、一點一點的分離、礦物組合，以及自動化分析多個樣本的紋理或拋光切面。
Tescan 的獨​​特技術是基於一個完全整合的能散X光線儀（EDX），它能快速的掃描影像。 TIMA 影像分析功能可同時出 SEM 背散電子影像和X光線影像。 SEM 和 EDX 硬體的整合允許前所未有的分析速度，可以全自動分析數據、快速、準確、可重複的得到結果。
Tescan 是世界領先的科學儀器製造商，成立於1991年，也是ISO認證公司，生產掃描電子顯微鏡有著悠久的歷史。

原廠網址：http://www.tescan.com/en

JSM-7100F Analytical Field Emission SEM

JEOL 發佈場發射掃描電子顯微鏡 FE-SEM ，能提供更多成像和分析能力，並可以根據用戶要求定制功能。JEOL JSM-7100F 系列在各種加速電壓下都把小的探針和大的束狀電流結合在一起，因此能提供低於1nm 的成像能力和100nm 的表徵分析能力。

JSM-7100F 主要為經費緊張的實驗室設計，因此它是一款多功能、容易使用的場發射 SEM，同時又可以擴展到新的水平。通過獨特的' 透鏡場發射槍' ，SEM 能對樣品打出 200 nA 的電流。孔徑角控製鏡頭自動優化小探針光斑的尺寸，以進行高分辨率成像、保持高電子束的光斑形狀和高分辨率顯微分析。

JSM-7100FT 新配了重新設計的複合透鏡和帶能量過濾器的透鏡探測器，因此擁有先進的高分辨能力。電子柱優越的電子光學設計使它擁有高分辨率成像能力，對包括磁性樣品在內的各種材質類型的表面細節都成像清楚。有集成的透鏡加速、減速裝置，就會減少低 kV 的畸變，得到更高速分辨率以及加速度小的電壓。另外，JEOL 的已被證實有效的束流減速模式會在給非導電樣本成像時較少供電，提高了低 kV 下光斑的大小，提高了表面形貌。

新的場發射SEM 為非導電樣本的多種成像、分析技術提供越來越多的可能性。每個機器都採用渦輪分子泵和快速樣本交換氣閘確保清潔的真空環境。

可選低真空操作部件
可選 LV 功能（直到300Pa ）為 JSM-7100F 和 JSM-7100FT 提供額外的功能，通過顯微鏡用戶界面可全面控制 LV 功能，同時在高真空下不破壞真空無限制的低倍成像和高電子束時，允許所有的 LV 洞口被收回。LV 系統配備在固態BSE 檢測器上。
可調節的多個分析技術。

JSM-7100F 系列配備了大的樣本室，這樣可以同時容納各種檢測器和附件，包括EDS 、WDS 、STEM 、BSE 、CL 和 IR 相機，並不會折中某一個的表現，這個系統可以配備原位實驗所需的各種載物台，如拉伸、加熱和製冷載物台。

提高了生產率
JEOL 以其容易使用的 SEM 操作軟體、圖形用戶界面和生產率大幅提高而著稱。存儲影像時會保留操作條件，方便多個用戶使用。影像的歸檔、搜索、測量、生成報告、過濾和剪接都可在影像數據庫進行。

原廠網址：http://www.jeolusa.com/Default.aspx?tabid=174